Вы прямо вынуждаете меня как можно быстрее написать статью об этом.
На самом деле, при честном описании — всё не так прозрачно для объяснения.
Я писал комментарий о природе света. Мы можем посвятить пятнышком ограниченного размера на нанообъект, и не увидим его. Почему не увидим и как это объяснить простыми словами — я немного затруднясь и могу быть неправ в своих дальнейших словах. Поправьте, если кто в теме.
Моя интерпретация такова: пятно сфокусированного света (для простоты берем одну длину волны, например зеленый свет 530 нм) однородно по площади. Если мы светим на какой-нибудь массив точек (размер которых не превышает 10 нм), то мы их не увидим, так как не фиксируем разницу между местом, где точка есть, и где ее нет. То есть, отражение должно быть строго однородным (просто зеленый свет). И повысить разрешение = сфокусироваться на более мелкие объекты (= уменьшить пятнышко света) невозможно чисто физически из-за дифракционной природы света.
Прямая аналогия — это как смотреть на фотографию в низком качестве, где видны размытые пиксели (размер пикселя = пятнышко света) и пытаться сфокусироваться на высокое качество. Даже если мы берем суперкачественную отпечатанную фотографию и будем смотреть ее под микроскопом, рано или поздо мы увидим зернистость. Нанотехнологии, как мы видим, лежат
за пределами физических возможностей фокусировки света.
Но это давно обошли и я потом расскажу как
Откровенно говоря, вместо однородного пятна, мы будем наблюдать термодинамические помехи, или как любят выражаться ученые, флуктуации отраженных фотонов (здесь рекомендуется представить телевизор с чернобелыми помехами).
… Если зонд проходит над ямой — видим ослабление тока. Если под зондом горка — усиление. Так происходит из-за изменения расстояния между иглой и образцом. На основе данных строим картинки (контраст зависит от величины тока в конкретной точке. Чем светлее — тем выше значения, так как зонд был ближе к поверхности)...
Картинка что мы наблюдаем после зондирования поверхности — это просто визуализированный двумерный массив (с координатами по x и y), где каждая точка имеет собственный «вес» — высоту поверхности, которая наглядно демонстрируется изменением контраста. Кстати, контраст можно настроить в любых тонах, вот вам например в желтых ;)
То есть, на картинках нет никакого света и отражений.
Не могли вы бы поточнее сформулировать свой вопрос, так как
Хотел спросить почему [дальше идет вопрос про цвет]
и
понял что размер объекта соизмерим с длинной волны и почему исчезает понятие цвета.
Слева мы имеем фотографию структуры, а справа пирамидку, снятую с помощью зондовой микроскопии. Размеры объекта по сравнению с кончиком зонда — огромны (порядка нескольких микрометров против 10 нанометров. Это практически отношение размеров пирамиды Хеопса и человека). Поэтому мы можем получить такое детальное разрешение объекта — видим все неровности и… банальную грязь, которую вы неуважительно приняли за пупырышки. :D
Кстати говоря, если мы изучаем образец с помощью оптических методов, силы излучения (интенсивности «света») достаточно, чтобы испепелить такие мелкие органические частички (что мы наблюдаем в реальном времени).
Когда я впервые это увидел, на меня это произвело сильное впечатление и я себя почувствовал на Звезде Смерти. =)
Знаете, если вдуматься, то это не очень очевидно. Я согласен, что в АСМ скругление более важно, но насколько сильно повлияет форма окончания кантилевера на СТМ не берусь сходу ответить.
Кстати, если я ничего не путаю, сейчас кантилевер бывает объединенным: для АСМ и СТМ используется одна и та же игла.
По предварительным результатом моей работы (что является темой диплома, который я планирую получить через пару месяцев, как раз по теме эллипсометрии) могу сказать, что с эллипсометром нужно быть крайне осторожным — он может показать результат, который ты ожидаешь увидеть, но, увы, ложный.
На нем можно измерять какой-то один неизвестный параметр при заданных остальных (например, мы достаточно точно знаем толщину 3/4 слоев, а последний слой измеряем на эллипсометре). Таким образом, можно осуществлять дополнительный этап технологического экспресс-контроль на производстве. Но так пока никто не делает ;D
Если верить моему собственному анализу публикаций (преимущественно зарубежных), эллисометрию используют для изучения фазового перехода и процессов роста кристалла, и для изучения оптических и электрических свойств. Никто не меряет толщины как самоцель =(
Может сегодня день такой, но что-то я туго въезжаю.
Черная линия же имеет как раз форму полого холма — максимум в центре и достаточно длинные хвосты, которые отражают не форму объекта (у нас же короткий шарик), а плавность подъема зонда и форму кривизны иголки. То есть, непонятно, где на этих хвостах измерять ширину объекта.
Можно примерно ее вычислить, взяв, например ширину на половине общей высоты и оценить погрешность. Разумеется, какие-то мат. методы в реальном времени улучшают картинку (на установке они включается по типу фильтров, но я особо не вникал).
Зло не столько в формулах, сколько в самом подходе — меня всегда в вузовской форме подачи убивала отвязанность от реальности.
В ВУЗе скорее всё слишком идеализируется. Я бы даже сказал, что в сторону усложнения. Большинством установок может и школьник управлять, если ему грамотно всё объяснить. Нам постоянно говорили про какие-то сверхсложности в научной работе и подходах, а в реальности полкафедры бухает, а эксперименты делаются даже без каких либо теоретических предсказаний перед началом исследований (к счастью, не у нас в лаборатории).
Эх, товарищ, что же вы антивибрационные столики ногами-то пихаете. =(
Честно говоря, не могу понять, почему все объекты увеличись в 2 раза, без искажения качества. А можете картинками поделиться? Хотя бы в личные сообщения. (p.s. а может всё нормально, просто zoom слетел?)
«Иголочные» методы еще ничего. Вы говорите, что редька горька, а я вам сейчас дам хрен попробовать ;)
Сейчас занимаюсь спектроскопической эллипсометрией . Если коротко, то этот прибор позволяет измерять толщины тонких пленок (не только на поверхности) и косвенно определять их состав. Мы светим на образец, ловим отражения света. Отраженный свет всегда поляризован. За счет изменения параметров поляризации, мы строим слоистую модель образца и пытаемся подобрать (!) толщины вручную. Естественно, компьютер помогает своими мат.методами, но суть не меняется — задача превращается в исконно творческую. Поэтому быть экспериментатором — искусство.
А геммороя добавляет непродуманный софт, который писали кто угодно, но не физики: ну как можно указывать мольную долю (концентрацию) алюминия 0.288402, когда производитель образца утверждает, что он не может заложить концентрацию точнее, чем 0.03? Все цифры после тысячного элемента не имеют смысла в принципе.
Программа моделирования позволяет делать всё правильно и даже получать верный результат, который при адекватной проверке не проходит тест на «физичность» (соответствие с реальностью).
В общем, гораздо проще работать с технологией, которая кажется сложной и ненадежной, но однозначной, чем иметь просто метод, но большой элемент случайности. =)
А у нас в лаборатории над купленными кантилеверами трясутся как Кощеи. Только когда они подыхают, их отдают в руки студентам, чтобы те наизмерялись всласть.
Меня всегда поражала разница между идеальным применением и реальностью. Ладно еще, изготовленный под заказ кантилевер и скрепка+кусачки. В методе создания подложек для микросхем (кристаллы) используют сверхчистые материалы, классами частоты «от 6 девяток и выше». Класс чистоты As 7N (мышьяк, кто не знает) означает что в веществе содержится 99,99999% мышьяка, всё остальное примеси. 7 nines или 7 девяток =)
Естественно, чтобы изготовить и сохранить такую чистоту (а у нее всегда есть срок годности) — огромный гемморой. А в лаборатории упаковку открывают на воздухе руками, стараясь ее аккуратно выдавить в емкость тигеля (типа горшка для плавки). Кстати, сверхчистый алюминий дороже золота ;D
Честно говоря, какой-то сомнительный труд. Во-первых, непонятно для кого он. Если для обывателя, то про микроскоп вообще почти не говорят (хотя было бы логичнее сослаться на какой-нибудь простой учебник для начала. Ссылки что там есть или биты, или архисложны для понимания), а на DIY для людей в теме так это точно не тянет, так как в первую очередь примера сделанного микроскопа, а данные указанные на сайте, я думаю, делались на заводских СЗМ.
Да и ряд конструктивных решений меня смущает, например форма микроскопа и грубая позиционировка на микровинтах, которые параллельны друг другу (!). Или форма пьезоэлементов. Обычно используют один тонкотрубчатый пьезоэлемент, которым управляют в зависимости от приложения токов на накладки, наклеенные по его внешней поверхности. В общем, непонятно откуда они взяли такое воплощение микроскопа, я такого еще не видел.
За гранью добра остается еще вопрос о приборной погрешности, технике безопасности, методе крепления зонда и так далее. Тем не менее, я извлек для себя полезные сведния о домашнем создании кантилеверов и имитации антивибрационного столика, но в целом незачет.
Может я не из того поколения, но что-то никак не могу себе представить откушенную проволку, которая была бы тонкой в двух измерениях, как игла, а не в одном, как крошечноелезвие.
Разумеется это влияет на ее использование в роли кантилевера.
Прочитал еще раз и осознал, что написал кривовато. Объясню чуть подробнее:
Именно из-за наличия дифракционного предела (другими словами, это свойство света) мы не можем сфокусировать свет в пятнышко любого размера. Минимальный размер пятнышка света зависит от длины волны и показателя преломления среды, где происходит процесс. Если мы берем длину волны зеленого света (530 нм) и воздух (показатель преломления равен 1), то получается, что мы не можем получить пятнышко менее, чем 275 нм. Никак. Это чисто физическое ограничение и оно никак не связано с техникой.
Тем не менее, это можно обойти хитрыми путями, о чем я напишу в следующих постах, когда мы будем разбирать РЭм, ПЭМ и ближнепольную оптическую микроскопию.
Я не утверждал что я ее прочитал. Просто ознакомился.
К сожалению, вы не позаботились о том, чтобы ее прочтение было доступным для читателя. Тем не менее, я не получил ответов на свои простые вопросы, ни в виде конкретных ссылок, ни ответами в комментариях. Вы постоянно вдаетесь в технические подробности, как будто прикрываетесь ими.
Свое дальнейшее участие в обсуждении я считаю бесмысленным. =)
Если вы имеете в виду инженерную сторону фокусировки — то вы сильно ошибаетесь.
Основная принципиальная проблема в развитии «бытовых» световых микроскопов — существование дифракционного предела.
Именно из-за него мы не можем увидеть объекты ниже чем определенная длина, ограниченная природой света. Так что дело не в техническом ограничении, а в приниципально физическом.
Охохо. А вы уверены, что вам нужна именна такая острота?
К сожалению, я пока не знаю, как сделать кантилевер в домашних условиях, да и создание кантилеверов — это область где мои знания пока совсем-совсем базовые. Тем не менее, я попытаюсь вам помочь. =)
Вон в предыдущих комментариях говорят, что можно самому собрать дома СТМ, что для меня было уже открытием. Может и кантилевер более или менее адекватный можно сделать домашним методом Чохральского.
Про потери — в статье про это детально написано. Прежде чем комментировать, все же лучше прочитать (хотя бы сделать поиск по слову «потери»).
Кстати, обращаю ваше внимание, что я просмотрел статью по поиску слова «потери».
Я так и не увидел ответа, почему энергия, загруженная в землю в виде электричества не будет переходит в другие типы энергии (я их перечислял выше).
В статье вы просто рассказали про электротехнические потери, возникающие в проводниках, в т.ч. в длинных линиях. Это знакомо всем, кто знаком с элетротехникой.
Я считаю, что основная невозможность всей вашей модели заключается в том, что вы просто забыли, что модель никогда не отражает на 100% действительность. И энергия ВСЕГДА будет переходить в другие типы. В планетарных масштабах это критично.
Таким образом, я предполагаю, что если вы нигде не ошиблись в математике и физ. моделях — эксперимент может получиться в локальном масштабе. Если нет — то вы Петрик ;)
А пока вы с братом просто заблудшие ученые.
Про потери — в статье про это детально написано. Прежде чем комментировать, все же лучше прочитать (хотя бы сделать поиск по слову «потери»).
Энергия извлекается резонансно-связанными контурами — см. раздел «КПД передачи».
Бегло ознакомился. Если коротко, то как запихали энергию — также и сняли. Допустим, спорить не буду.
Нет не можем, физика процесса совсем другая.
Вы можете поделиться ссылкой или ответить на вопрос, в чем приниципиальное отличие физики процесса от резервуара планетарного масштаба (Земля) и «локального» контейнера (бассейн с землей). Это зависит от размеров бассейна? От качественного состава земли?
(как я понимаю, «незапланированное» излучение от земли в атмосферу легко и само собой нивелируется отражение от ионосферы, энергия возвращается обратно в длинную линию, поэтому это не должно влиять на «домашний» эксперимент, что тоже мне кажется сомнительным, но в рамках вашей модели я спорить не буду.)
Я просто хочу увидеть наглядную и работающую демонстрацию эффекта вкачивания энергии в земли и ее изъятие оттуда. Или внятное и простое объясние, почему это возможно только в планетарном масштабе. Пока мне не очень важно, как это делается, контурами, длинными линиями, низкочастотными модами и пр.
Насчет экономической точки зрения: можем ее даже не брать в счет, но если исследование или эксперимент не несет практического смысла и измеримой полезности — это отстой ;)
Пока я всё это расцениваю как попытки доказать великую теорему Ферма более коротким спобосом. Какой в этом толк, если она уже доказана, пусть доказательство занимает сотни листов?
Атомно-силовая микроскопия (АСМ) появилась позже, как естественная эволюция СТМ. Как вы могли понять из заключения статьи, следующий пост будет про нее.
А к растровой-элетронной микроскопии (или проникающей, РЭМ и ПЭМ соответственно) у меня душа как-то не лежит ;) я о них тоже напишу, но эти технологии требуют объяснения, почему мы используем электроны вместо фотонов, что предполагает несколько более глубокое погружение в тему исследования микромира.
На самом деле, при честном описании — всё не так прозрачно для объяснения.
Я писал комментарий о природе света. Мы можем посвятить пятнышком ограниченного размера на нанообъект, и не увидим его. Почему не увидим и как это объяснить простыми словами — я немного затруднясь и могу быть неправ в своих дальнейших словах. Поправьте, если кто в теме.
Моя интерпретация такова: пятно сфокусированного света (для простоты берем одну длину волны, например зеленый свет 530 нм) однородно по площади. Если мы светим на какой-нибудь массив точек (размер которых не превышает 10 нм), то мы их не увидим, так как не фиксируем разницу между местом, где точка есть, и где ее нет. То есть, отражение должно быть строго однородным (просто зеленый свет). И повысить разрешение = сфокусироваться на более мелкие объекты (= уменьшить пятнышко света) невозможно чисто физически из-за дифракционной природы света.
Прямая аналогия — это как смотреть на фотографию в низком качестве, где видны размытые пиксели (размер пикселя = пятнышко света) и пытаться сфокусироваться на высокое качество. Даже если мы берем суперкачественную отпечатанную фотографию и будем смотреть ее под микроскопом, рано или поздо мы увидим зернистость. Нанотехнологии, как мы видим, лежат
Откровенно говоря, вместо однородного пятна, мы будем наблюдать термодинамические помехи, или как любят выражаться ученые, флуктуации отраженных фотонов (здесь рекомендуется представить телевизор с чернобелыми помехами).
Картинка что мы наблюдаем после зондирования поверхности — это просто визуализированный двумерный массив (с координатами по x и y), где каждая точка имеет собственный «вес» — высоту поверхности, которая наглядно демонстрируется изменением контраста. Кстати, контраст можно настроить в любых тонах, вот вам например в желтых ;)
То есть, на картинках нет никакого света и отражений.
Не могли вы бы поточнее сформулировать свой вопрос, так как
и меня немного сбивает с мысли.
Слева мы имеем фотографию структуры, а справа пирамидку, снятую с помощью зондовой микроскопии. Размеры объекта по сравнению с кончиком зонда — огромны (порядка нескольких микрометров против 10 нанометров. Это практически отношение размеров пирамиды Хеопса и человека). Поэтому мы можем получить такое детальное разрешение объекта — видим все неровности и… банальную грязь, которую вы неуважительно приняли за пупырышки. :D
Кстати говоря, если мы изучаем образец с помощью оптических методов, силы излучения (интенсивности «света») достаточно, чтобы испепелить такие мелкие органические частички (что мы наблюдаем в реальном времени).
Когда я впервые это увидел, на меня это произвело сильное впечатление и я себя почувствовал на Звезде Смерти. =)
Кстати, если я ничего не путаю, сейчас кантилевер бывает объединенным: для АСМ и СТМ используется одна и та же игла.
На нем можно измерять какой-то один неизвестный параметр при заданных остальных (например, мы достаточно точно знаем толщину 3/4 слоев, а последний слой измеряем на эллипсометре). Таким образом, можно осуществлять дополнительный этап технологического экспресс-контроль на производстве. Но так пока никто не делает ;D
Если верить моему собственному анализу публикаций (преимущественно зарубежных), эллисометрию используют для изучения фазового перехода и процессов роста кристалла, и для изучения оптических и электрических свойств. Никто не меряет толщины как самоцель =(
Черная линия же имеет как раз форму полого холма — максимум в центре и достаточно длинные хвосты, которые отражают не форму объекта (у нас же короткий шарик), а плавность подъема зонда и форму кривизны иголки. То есть, непонятно, где на этих хвостах измерять ширину объекта.
Можно примерно ее вычислить, взяв, например ширину на половине общей высоты и оценить погрешность. Разумеется, какие-то мат. методы в реальном времени улучшают картинку (на установке они включается по типу фильтров, но я особо не вникал).
В ВУЗе скорее всё слишком идеализируется. Я бы даже сказал, что в сторону усложнения. Большинством установок может и школьник управлять, если ему грамотно всё объяснить. Нам постоянно говорили про какие-то сверхсложности в научной работе и подходах, а в реальности полкафедры бухает, а эксперименты делаются даже без каких либо теоретических предсказаний перед началом исследований (к счастью, не у нас в лаборатории).
Честно говоря, не могу понять, почему все объекты увеличись в 2 раза, без искажения качества. А можете картинками поделиться? Хотя бы в личные сообщения. (p.s. а может всё нормально, просто zoom слетел?)
«Иголочные» методы еще ничего. Вы говорите, что редька горька, а я вам сейчас дам хрен попробовать ;)
Сейчас занимаюсь спектроскопической эллипсометрией . Если коротко, то этот прибор позволяет измерять толщины тонких пленок (не только на поверхности) и косвенно определять их состав. Мы светим на образец, ловим отражения света. Отраженный свет всегда поляризован. За счет изменения параметров поляризации, мы строим слоистую модель образца и пытаемся подобрать (!) толщины вручную. Естественно, компьютер помогает своими мат.методами, но суть не меняется — задача превращается в исконно творческую. Поэтому быть экспериментатором — искусство.
А геммороя добавляет непродуманный софт, который писали кто угодно, но не физики: ну как можно указывать мольную долю (концентрацию) алюминия 0.288402, когда производитель образца утверждает, что он не может заложить концентрацию точнее, чем 0.03? Все цифры после тысячного элемента не имеют смысла в принципе.
Программа моделирования позволяет делать всё правильно и даже получать верный результат, который при адекватной проверке не проходит тест на «физичность» (соответствие с реальностью).
В общем, гораздо проще работать с технологией, которая кажется сложной и ненадежной, но однозначной, чем иметь просто метод, но большой элемент случайности. =)
А у нас в лаборатории над купленными кантилеверами трясутся как Кощеи. Только когда они подыхают, их отдают в руки студентам, чтобы те наизмерялись всласть.
Меня всегда поражала разница между идеальным применением и реальностью. Ладно еще, изготовленный под заказ кантилевер и скрепка+кусачки. В методе создания подложек для микросхем (кристаллы) используют сверхчистые материалы, классами частоты «от 6 девяток и выше». Класс чистоты As 7N (мышьяк, кто не знает) означает что в веществе содержится 99,99999% мышьяка, всё остальное примеси. 7 nines или 7 девяток =)
Естественно, чтобы изготовить и сохранить такую чистоту (а у нее всегда есть срок годности) — огромный гемморой. А в лаборатории упаковку открывают на воздухе руками, стараясь ее аккуратно выдавить в емкость тигеля (типа горшка для плавки). Кстати, сверхчистый алюминий дороже золота ;D
Честно говоря, какой-то сомнительный труд. Во-первых, непонятно для кого он. Если для обывателя, то про микроскоп вообще почти не говорят (хотя было бы логичнее сослаться на какой-нибудь простой учебник для начала. Ссылки что там есть или биты, или архисложны для понимания), а на DIY для людей в теме так это точно не тянет, так как в первую очередь примера сделанного микроскопа, а данные указанные на сайте, я думаю, делались на заводских СЗМ.
Да и ряд конструктивных решений меня смущает, например форма микроскопа и грубая позиционировка на микровинтах, которые параллельны друг другу (!). Или форма пьезоэлементов. Обычно используют один тонкотрубчатый пьезоэлемент, которым управляют в зависимости от приложения токов на накладки, наклеенные по его внешней поверхности. В общем, непонятно откуда они взяли такое воплощение микроскопа, я такого еще не видел.
За гранью добра остается еще вопрос о приборной погрешности, технике безопасности, методе крепления зонда и так далее. Тем не менее, я извлек для себя полезные сведния о домашнем создании кантилеверов и имитации антивибрационного столика, но в целом незачет.
Разумеется это влияет на ее использование в роли кантилевера.
Именно из-за наличия дифракционного предела (другими словами, это свойство света) мы не можем сфокусировать свет в пятнышко любого размера. Минимальный размер пятнышка света зависит от длины волны и показателя преломления среды, где происходит процесс. Если мы берем длину волны зеленого света (530 нм) и воздух (показатель преломления равен 1), то получается, что мы не можем получить пятнышко менее, чем 275 нм. Никак. Это чисто физическое ограничение и оно никак не связано с техникой.
Тем не менее, это можно обойти хитрыми путями, о чем я напишу в следующих постах, когда мы будем разбирать РЭм, ПЭМ и ближнепольную оптическую микроскопию.
К сожалению, вы не позаботились о том, чтобы ее прочтение было доступным для читателя. Тем не менее, я не получил ответов на свои простые вопросы, ни в виде конкретных ссылок, ни ответами в комментариях. Вы постоянно вдаетесь в технические подробности, как будто прикрываетесь ими.
Свое дальнейшее участие в обсуждении я считаю бесмысленным. =)
Если вы имеете в виду инженерную сторону фокусировки — то вы сильно ошибаетесь.
Основная принципиальная проблема в развитии «бытовых» световых микроскопов — существование дифракционного предела.
Именно из-за него мы не можем увидеть объекты ниже чем определенная длина, ограниченная природой света. Так что дело не в техническом ограничении, а в приниципально физическом.
К сожалению, я пока не знаю, как сделать кантилевер в домашних условиях, да и создание кантилеверов — это область где мои знания пока совсем-совсем базовые. Тем не менее, я попытаюсь вам помочь. =)
Вон в предыдущих комментариях говорят, что можно самому собрать дома СТМ, что для меня было уже открытием. Может и кантилевер более или менее адекватный можно сделать домашним методом Чохральского.
Кстати, обращаю ваше внимание, что я просмотрел статью по поиску слова «потери».
Я так и не увидел ответа, почему энергия, загруженная в землю в виде электричества не будет переходит в другие типы энергии (я их перечислял выше).
В статье вы просто рассказали про электротехнические потери, возникающие в проводниках, в т.ч. в длинных линиях. Это знакомо всем, кто знаком с элетротехникой.
Я считаю, что основная невозможность всей вашей модели заключается в том, что вы просто забыли, что модель никогда не отражает на 100% действительность. И энергия ВСЕГДА будет переходить в другие типы. В планетарных масштабах это критично.
Таким образом, я предполагаю, что если вы нигде не ошиблись в математике и физ. моделях — эксперимент может получиться в локальном масштабе. Если нет — то вы Петрик ;)
А пока вы с братом просто заблудшие ученые.
Бегло ознакомился. Если коротко, то как запихали энергию — также и сняли. Допустим, спорить не буду.
Вы можете поделиться ссылкой или ответить на вопрос, в чем приниципиальное отличие физики процесса от резервуара планетарного масштаба (Земля) и «локального» контейнера (бассейн с землей). Это зависит от размеров бассейна? От качественного состава земли?
(как я понимаю, «незапланированное» излучение от земли в атмосферу легко и само собой нивелируется отражение от ионосферы, энергия возвращается обратно в длинную линию, поэтому это не должно влиять на «домашний» эксперимент, что тоже мне кажется сомнительным, но в рамках вашей модели я спорить не буду.)
Я просто хочу увидеть наглядную и работающую демонстрацию эффекта вкачивания энергии в земли и ее изъятие оттуда. Или внятное и простое объясние, почему это возможно только в планетарном масштабе. Пока мне не очень важно, как это делается, контурами, длинными линиями, низкочастотными модами и пр.
Насчет экономической точки зрения: можем ее даже не брать в счет, но если исследование или эксперимент не несет практического смысла и измеримой полезности — это отстой ;)
Пока я всё это расцениваю как попытки доказать великую теорему Ферма более коротким спобосом. Какой в этом толк, если она уже доказана, пусть доказательство занимает сотни листов?
А к растровой-элетронной микроскопии (или проникающей, РЭМ и ПЭМ соответственно) у меня душа как-то не лежит ;) я о них тоже напишу, но эти технологии требуют объяснения, почему мы используем электроны вместо фотонов, что предполагает несколько более глубокое погружение в тему исследования микромира.
Пойдем от простого к сложному.